Микроскоп со атомска сила
-
атомска сила afm микроскоп
Марка: NANBEI
Модел: AFM
Микроскоп на атомска сила (AFM), аналитички инструмент кој може да се користи за проучување на површинската структура на цврстите материјали, вклучувајќи ги и изолаторите.Ја проучува површинската структура и својствата на супстанцијата со откривање на екстремно слабата интератомска интеракција помеѓу површината на примерокот што треба да се тестира и елементот чувствителен на микросила.
